絕緣體積表面電阻率裝置在測試大電容器件（如大型電纜）時，為了防止電容電流對儀表的沖擊，在ZC-90G中設置了“保護—測量”選擇按鈕（22），其用法如下：在測量開始之前，按一下“保護—測量”選擇按鈕， “保護”狀態指示燈（23）亮，儀表進入輸入端短路的保護狀態，然后再接通測量回路，在測量開始后十秒左右，大電流充電已基本完成，再按一下“保護—測量”選擇按鈕， “保護”狀態指示燈滅，儀表進入正常測量狀態

四探針方阻電阻率檢測儀適用于企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析半導體材料質量的工具；液晶顯示，自動測量和系數補償，并帶有溫度補償功能，自動轉換量程；采用AD芯片控制，恒流輸出。

四探針半導體電阻率測量儀參照標準： 1.硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）. 2.GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》. 3.GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》. 4.GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》.

雙電四探針電阻測試儀符合單晶硅物理測試方法標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，對數據進行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提高度，特別是適用于斜置式四探針對于微區的測試。

絕緣涂層表面體積電阻率測試儀顯示迅速、穩定性好、讀數方便, 適用于防靜電產品如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計算機房防靜電活動地板等電阻值的檢驗以及絕緣材料和電子電器產品的絕緣電阻測量。本儀器除能測電阻外，還能直接測量電流如電子器件暗電流等。