塑料薄膜介質損耗因數測試儀

塑料薄膜介質損耗因數測試儀在下面的計算公式中，用戶可根據實際使用情況估算出電橋靈敏度水平，在這

個水平上的電容與介質損耗因數的微小變化都能夠反應出來。

          DC/C或Dtgd=Ig/UwCn(1+Rg/R4+Cn/Cx)   

         式中：Ｕ為測量電壓                     伏特（Ｖ）

ω為角頻率 2pf=314(50Hz)                            

          Ｃｎ標準電容器容量                    皮法（pＦ）

          Ｉｇ通用指另儀的電流5X10-10            安培（Ａ）

          Ｒｇ平衡指另儀內阻約1500              歐姆（W）

          Ｒ４橋臂R4電阻值3183                 歐姆（W）

          Ｃｘ被測試品電容值                    皮法（ｐF）

2.3 電容量及介損顯示精度：

    電容量： ±0.5%×tgδx±0.0001。

    介  損： ±0.5％tgdx±1×10-4

2.4 輔橋的技術特性：

    工作電壓±12V，50Hz

    輸入阻抗>1012　W

    輸出阻抗>0.6 W

    放大倍數>0.99

    不失真跟蹤電壓  0～12V（有效值）

2.5 指另裝置的技術特性：

    工作電壓±12V

    在50Hz時電壓靈敏度不低于1X10-6V／格， 電流靈敏度不低于2X10-9A／格

    二次諧波  減不小于25db

三次諧波  減不小于50db

塑料薄膜介質損耗因數測試儀本標準規定了在15 Hz?300 MHz的頻率范圍內測量電容率、介質損耗因數的方法，并由此計算某 些數值，如損耗指數。本標準中所敘述的某些方法，也能用于其他頻率下測量。

本標準適用于測量液體、易熔材料以及固體材料。測試結果與某些物理條件有關，例如頻率、溫度、 濕度，在特殊情況下也與電場強度有關.

有時在超過1 000 V的電壓下試驗，則會引起一些與電容率和介質損耗因數無關的效應，對此不予 論述。

電容器的電極之間及電極周圍的空間全部充以絕緣材料時，其電容Cx與同樣電極構形的真空電 容G之比：

式中：

相對電容率：

充有絕緣材料時電容器的電極電容；

真空中電容器的電極電容。

在標準大氣壓下，不含二氧化碳的干燥空氣的相對電容率％等于L 000 53o因此，用這種電極構 形在空氣中的電容G來代替G測量相對電容率％時，也有足夠的精確度。

在一個測量系統中，絕緣材料的電容率是在該系統中絕緣材料的相對電容率％與真空電氣常數気 的乘積。

在SI制中，絕對電容率用法/米（F/m）表示°而且.在SI單位中，電氣常數s為：

= 8.854 X 10 忐 XR） （2）

在本標準中，用皮法和厘米來計算電容，真空電氣常數為：

A型高頻Q表和C型高頻Q表主要區別

A/C高頻Q表能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質損耗，高頻回路有效并聯及串聯電阻，傳輸線的特性阻抗等。該儀器廣泛地用于科研機關、學校、工廠等單位。

A/C高頻Q表是北廣精儀儀器設備有限公司最

新研制的產品，它以DDS數字直接合成方式產生信號源，頻率達

60MHz /100MHz，信號源具有信號失真小、頻率精確、信號幅度穩定的優點，更保證了測量精度的精確性。A主電容調節用傳感器感應，電容讀數精確,且頻率值可設置。C主電容調節用

步進馬達控制，電容讀數更加精確,頻率值和電容值均可設置。A/C電容、電感、Q值、頻率、量程都用數字顯示，在某一頻率下，只要能找到諧振點，都能直接讀出電感、電容值，大大擴展了電感的測量范圍，而不再是固定的幾個頻率下才能測出電感值的大小。A/C*的諧振點頻率自動搜索或電容自動搜索功能，能幫助你在使用時快速地找到被測量器件的諧振點，自動讀出Q值和其它參數。Q值量程可手動或自動轉換。

頻率

因為只有少數材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很寬的頻率范圍內它們的％和切澎幾乎是恒 定的，且被用作工程電介質材料，然而一般的電介質材料必須在所使用的頻率下測量其介質損耗因數和 電容率。

電容率和介質損耗因數的變化是由于介質極化和電導而產生，最重要的變化是極性分子引起的偶 極子極化和材料的不均勻性導致的界面極化所引起的。

溫度

損耗指數在一個頻率下可以出現一個最大值，這個頻率值與電介質材料的溫度有關.介質損耗因 數和電容率的溫度系數可以是正的或負的，這取決于在測量溫度下的介質損耗指數最大值位置。

濕度

極化的程度隨水分的吸收量或電介質材料表面水膜的形成而增加，其結果使電容率、介質損耗因數 和直流電導率增大。因此試驗前和試驗時對環境濕度進行控制是的.

注：濕度的顯著影響常常發生在1 MHz以下及微波頻率范圍內。

電場強度

存在界面極化時，自由離子的數目隨電場強度增大而增加，其損耗指數最大值的大小和位置也隨此 而變。

在較高的頻率下，只要電介質中不出現局部放電，電容率和介質損耗因數與電場強度無關。

在測定電容率需要較高精度時，最大的誤差來自試樣尺寸的誤差，尤其是試樣厚度的誤差，因此厚 度應足夠大，以滿足測量所需要的精確度。厚度的選取決定于試樣的制備方法和各點間厚度的變化。 對1%的精確度來講，1. 5 mm的厚度就足夠了，但是對于更高精確度，最好是采用較厚的試樣，例如 6 mm?12 mm。測量厚度必須使測量點有規則地分布在整個試樣表面上，且厚度均勻度在± 1 %內。 如果材料的密度是已知的，則可用稱量法測定厚度。選取試樣的面積時應能提供滿足精度要求的試樣 電容。測量10 pF的電容時，使用有良好屏蔽保護的儀器。由于現有儀器的極限分辨能力約1 pF,因此 試樣應薄些，直徑為10 cm或更大些。

需要測低損耗因數值時，很重要的一點是導線串聯電阻引入的損耗要盡可能地小，即被測電容和該 電阻的乘積要盡可能小。同樣，被測電容對總電容的比值要盡可能地大。第一點表示導線電阻要盡可 能低及試樣電容要小，第二點表示接有試樣橋臂的總電容要盡可能小，且試樣電容要大，因此試樣電 容最好取值為20 pF,在測量回路中，與試樣并聯的電容不應大于約5 pF0

把試樣夾在兩塊互相配合好的凹模之間，凹模中充有液體金屬，該液體金屬必須是純凈的。汞電極 不能用于高溫，即使在室溫下用時，也應采取措施，這是因為它的蒸氣是有毒的.

伍德合金和其他低熔點合金能代替汞。但是這些合金通常含有鎘，鎘象汞一樣，也是毒性元素.這些 合金只有在良好抽風的房間或在抽風柜中才能用于10。笆以上，且操作人員應知道可能產生的健康危害。