四探針低阻率檢測儀

四探針低阻率檢測儀四端測試法是目前較*之測試方法，主要針對高精度要求之產品測試；本儀器廣泛用于生產企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。用于雙極板材料本體電阻率和雙極板與炭紙之間的接觸電阻的測量和分析.4.3吋液晶屏幕顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率、電阻率、壓強，自動測量、集成電路系統(tǒng)、恒流輸出，如選購PC軟件，可以分析在不同壓力下接觸電阻得變化曲線圖譜. 由電腦操控，并保存和打印數據，自動生成報表. 提供中文或英文兩種語言操作界面選擇.

BEST-300C 型材料電導率測試儀是運用四探針測量原理測試試導體、半導體材料電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。

儀器成套組成：由主機、選配的四探針探頭和測試臺等三部分組成。

主機主要由數控恒流源，高分辨率 ADC、嵌入式單片機系統(tǒng)組成。自動/手動量程可選；電阻率、方阻、電阻測試類別快捷切換：儀器所有參數設定、功能轉換全部采用數字化鍵盤輸入，簡便可靠；具有零位、滿度自校功能；測試結果由數字表頭直接顯示。本測試儀采用可充電鋰電池供電，適合手持式變動場合操作使用！

探頭選配：根據不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO 膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量。配專用探頭， 也可測試電池極片等箔上涂層電阻率方阻。

儀器具有測量范圍寬、精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、外形美觀、使用簡便等特點。

儀器適用于半導體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。

技術參數測量范圍、分辨率（括號內為拓展量程，可定制）

電 阻：10.0×10-6  ～ 200.0×103 Ω, 分辨率 1.0×10-6  ～ 0.1×103 Ω（1.0×10-6  ～ 20.00×103 Ω, 分辨率 0.1×10-6  ～ 0.01×103Ω）電 阻 率：10.0×10-6  ～ 200.0×103  Ω-cm 分辨率 1.0×10-6  ～ 0.1×103 Ω-cm-cm）（1.0×10-6  ～ 20.00×103  Ω-cm 分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103  Ω方塊電阻：50.0×10-6  ～ 1.0×106  Ω/□ 分辨率 5.0×10-6  ～ 0.5×103 Ω/（5.0×10-6  ～ 100.0×103  Ω/□ 分辨率0.5×10-6 ～ 0.1×103 Ω/

四探針低阻率檢測儀恒流源：輸出電流：DC 0.001～100mA 五檔連續(xù)可調

量程：0.001～0.01mA0.01～0.10mA0.10～1.0mA1.0～10mA10～100mA

恒流精度：各檔均低于±0.05%直流數字電壓表：

測量范圍：0～199.99mV

靈敏度：10μV基本誤差：±（0.004%讀數+0.01%滿度）

輸出電源：≥1000ΩM供電電源：AC 220V±10% 50/60 Hz 功率：12W

使用環(huán)境：溫度：23±2℃ 相對濕度：≤65%