介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀-低頻

介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀-低頻由高頻阻抗分析儀、測(cè)試裝置，標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品組成，能對(duì)絕緣材料進(jìn)行 高低頻介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角(D或tanδ) 的測(cè)試。它符合國(guó)標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。

介電常數(shù)測(cè)試儀工作頻率范圍是20Hz～2MHz,它能完成工作頻率內(nèi)對(duì)絕緣材料的相對(duì)介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角 (D或tanδ)變化的測(cè)試。

介電常數(shù)測(cè)試儀中測(cè)試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測(cè)樣品，配用高頻阻抗分析儀作為指示儀器。絕緣材料的介電常數(shù)和損耗值是通過被測(cè)樣品放入平板電容器和不放樣品的D值(損耗值)變化和Cp（電容值）讀數(shù)通過公式計(jì)算得到。 

概述

GDAT-S是具有多種功能和更高測(cè)試頻率的新型阻抗分析儀，體積小，緊湊便攜，便于上架使用。本系列儀器基本精度為0.05%，測(cè)試頻率最高2MHz及10mHz的分辨率，4.3寸的LCD屏幕配合中英文操作界面，操作方便簡(jiǎn)潔。集成了變壓器測(cè)試功能、平衡測(cè)試功能,提高了測(cè)試效率。儀器提供了豐富的接口，能滿足自動(dòng)分選測(cè)試，數(shù)據(jù)傳輸和保存的各種要求。

性能特點(diǎn)

◎ 全自動(dòng)一鍵操作可自動(dòng)掃描最平穩(wěn)的量程階段

◎微電腦處理器反應(yīng)迅速可在最短時(shí)間內(nèi)計(jì)算出最佳頻段

◎ 夾具數(shù)字顯示

◎ 4.3寸TFT液晶顯示

◎ 中英文可選操作界面

◎ 最高2MHz的測(cè)試頻率，10mHz分辨率

◎ 平衡測(cè)試功能

◎ 變壓器參數(shù)測(cè)試功能

◎ 最高測(cè)試速度:13ms/次

◎ 電壓或電流的自動(dòng)電平調(diào)整（ALC）功能

◎ V、I 測(cè)試信號(hào)電平監(jiān)視功能

◎ 內(nèi)部自帶直流偏置源

◎ 可外接大電流直流偏置源

◎ 10點(diǎn)列表掃描測(cè)試功能

◎ 30Ω、50Ω、100Ω可選內(nèi)阻

◎ 內(nèi)建比較器，10檔分選和計(jì)數(shù)功能

◎ 內(nèi)部文件存儲(chǔ)和外部U盤文件保存

◎ 測(cè)量數(shù)據(jù)可直接保存到U盤

◎ RS232C、 USB 、LAN、HANDLER、GPIB、DCI接口

◎ 高頻阻抗分析儀電容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值顯示，保證了ε和D值精度和重復(fù)性。

◎ 介電常數(shù)測(cè)量范圍可達(dá)1～105

主要技術(shù)指標(biāo)： 

ε和D性能：

固體絕緣材料測(cè)試頻率20Hz～2MHz的ε和D變化的測(cè)試。

 ε和D測(cè)量范圍：ε：1～105，D：0.1～0.00005，

ε和D測(cè)量精度（10kHz）：ε：±2% ， D：±5%±0.0001。

測(cè)試參數(shù) :C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR

測(cè)試頻率 :20 Hz～2MHz,10mHz步進(jìn)

測(cè)試信號(hào)電:f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV）

平 :f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV)

輸出阻抗:10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

基本準(zhǔn)確度 ;0.1%

顯示范圍 :

L 0.0001 uH ～ 9.9999kH

C :0.0001 pF ～ 9.9999F

R,X,Z,DCR :0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ

Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S

D :0.0001 ～ 9.9999

Q :0.0001 ～ 99999

θ :-179.99°～ 179.99°

測(cè)量速度 ;快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz）

中速: 25次/s, 慢速: 5次/s

校準(zhǔn)功能 :開路 / 短路點(diǎn)頻、掃頻清零，負(fù)載校準(zhǔn)

等效方式 :串聯(lián)方式, 并聯(lián)方式

量程方式:自動(dòng), 保持

顯示方式 :直讀, Δ, Δ%

觸發(fā)方式 :內(nèi)部, 手動(dòng), 外部, 總線

內(nèi)部直流偏 :電壓模式-5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進(jìn)

置源 :電流模式（內(nèi)阻為50Ω）-100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進(jìn)

比較器功能:10檔分選及計(jì)數(shù)功能

顯示器;320×240點(diǎn)陣圖形LCD顯示

存儲(chǔ)器 :可保存20組儀器設(shè)定值

USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) USB HOST(FAT16 and FAT32 support)

接口 :LAN(LXI class C support) RS232C HANDLERGPIB（選件）

工作頻率范圍：20Hz～2MHz 數(shù)字合成，

精度：±0.02%

電容測(cè)量范圍：0.00001pF～9.99999F 六位數(shù)顯

電容測(cè)量基本誤差：±0.05%

損耗因素D值范圍：0.00001～9.99999 六位數(shù)顯

介電常數(shù)測(cè)試裝置（含保護(hù)電極）： 精密介電常數(shù)測(cè)試裝置提供測(cè)試電極，能對(duì)直徑φ10～56mm，厚度<10mm的試樣精確測(cè)量。

它針對(duì)不同試樣可設(shè)置為接觸電極法，薄膜電極法和非接觸法三種，以適應(yīng)軟材料，表面不平整和薄膜試樣測(cè)試。

介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀-低頻高頻介質(zhì)樣品（選購(gòu)件）： 在現(xiàn)行高頻介質(zhì)材料檢定系統(tǒng)中，檢定部門為高頻介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x提供的測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)是高頻標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品。該樣品由人工藍(lán)寶石，石英玻璃， 氧化鋁陶瓷，聚四氟乙烯，環(huán)氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm測(cè)試樣品。用戶可按需訂購(gòu)，以保證測(cè)試裝置的重復(fù)性和準(zhǔn)確性。