介電常數(shù)檢測(cè)儀 自動(dòng)

介電常數(shù)檢測(cè)儀 自動(dòng)園筒電容器的軸和軸同心度誤差不超過(guò)0.1mm。

介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種金屬氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物質(zhì)的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì)，通過(guò)測(cè)定可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)。該儀器用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對(duì)無(wú)機(jī)金屬新材料性能的應(yīng)用研究.

介電常數(shù)測(cè)量?jī)x/介電常數(shù)檢測(cè)儀參數(shù):

1. Q值量程分檔：30、100、300、999、自動(dòng)換擋

2. 電容測(cè)量范圍:1~460pF(460pF以上的電容測(cè)量見(jiàn)使用規(guī)則)

3. 準(zhǔn)確度：±0.2pF

樣品厚度可在 1--5mm 之間，樣品太薄或太厚就會(huì)使測(cè)試 精度下降，樣品要盡可能平直。 下面推薦一種能提高測(cè)試精確性的方法：準(zhǔn)備二片厚 0.05mm 的圓形錫膜，直徑和平 板電容器極片一致，錫膜兩面均勻地涂上一層薄薄的凡士林，它起粘著作用，又能排除接 觸面之間殘余空氣，把錫膜再粘在平板電容器兩個(gè)極片上，粘好后，極片呈鏡面狀為佳， 然后放上被測(cè)樣品。 

平板電容極片 Φ50mm/Φ25.4mm                         可選頻率范圍10KHz-60MHz/200KHz-160MHz

其他

本測(cè)試裝置是由精密機(jī)械構(gòu)件組成的測(cè)微設(shè)備，所以在使用和保存時(shí)要避免振動(dòng)和碰撞，要求在不含腐蝕氣體和干燥的環(huán)境中使用和保存，不能自行拆裝，否則其工作性能就不能保證，如測(cè)試夾具受到碰撞，或者作為定期檢查，要檢測(cè)以下幾個(gè)指標(biāo)：

該儀器用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對(duì)無(wú)機(jī)非金屬新材料性能的應(yīng)用研究。

主電容調(diào)節(jié)范圍： 30～500pF

中國(guó)檢測(cè)行業(yè)與驗(yàn)證服務(wù)的間端者和智領(lǐng)者，幫助眾多檢測(cè)質(zhì)檢單位和學(xué)校教研單位提供一站式的全面質(zhì)量解決方案。

平板電容器二極片平行度不超過(guò)0.02mm。

Q表正常工作條件

測(cè)試主機(jī)一臺(tái)；

夾具一 套 

夾角損耗角正切值：≤4×10－4（1MHz時(shí)）

信號(hào)源頻率覆蓋范圍10KHz-60MHz或200KHz-160MHz

外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。

介電常數(shù)檢測(cè)儀 自動(dòng)6位數(shù)字顯示；In: 英制測(cè)量模式；INC：相對(duì)測(cè)量模式；ABS：決對(duì)測(cè)量模式；Set： 初始值設(shè)置； ：電池電壓低報(bào)警（ 電池的更換見(jiàn)后面五注意事項(xiàng) ）； ： 數(shù)據(jù)輸出。 5）數(shù)據(jù)發(fā)送按鍵（本裝置沒(méi)有此功能） 6）ABS /INC/UNIT 按鍵：短按時(shí)（小于 1 秒）為 ABS /INC 轉(zhuǎn)換，長(zhǎng)按時(shí)（大于 1 秒） 為英制/公制轉(zhuǎn)換。 7）ON/OFF/ SET 按鍵：短按時(shí)為開(kāi)關(guān)液晶顯示屏；長(zhǎng)按時(shí)為初始值設(shè)置。 8）平板電容器極片 9）夾具插頭 2．被測(cè)樣品的準(zhǔn)備 被測(cè)樣品要求為圓形，直徑 50.4--52mm/38.4--40mm，這是減小因樣品邊緣泄漏和邊 緣電場(chǎng)引起的誤差的有效辦法。

儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試。它以單片計(jì)算機(jī)作為儀器的控制，測(cè)量核心采用了頻率數(shù)字鎖定，標(biāo)準(zhǔn)頻率測(cè)試點(diǎn)自動(dòng)設(shè)定，諧振點(diǎn)自動(dòng)搜索，Q值量程自動(dòng)轉(zhuǎn)換，數(shù)值顯示等新技術(shù)，改進(jìn)了調(diào)諧回路，使得調(diào)諧測(cè)試回路的殘余電感減至醉低，并保留了原Q表中自動(dòng)穩(wěn)幅等技術(shù)，使得新儀器在使用時(shí)更為方便，測(cè)量值更為精確。