介質損耗因數(shù)測試儀低頻介電常數(shù)測試儀由高頻阻抗分析儀、測試裝置，標準介質樣品組成，能對薄膜、各種板材及液態(tài)絕緣材料進行高低頻介電常數(shù)（ε）和介質損耗角（D或tanδ） 的測試。它符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。

陶瓷介質損耗因數(shù)測試儀印電路板主要由玻纖與環(huán)氧樹脂組成的, 玻纖介電常數(shù)為5~6, 樹脂大約是3, 由于樹脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會造成介電特性的偏差, 傳統(tǒng)測量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品（ 小于 10 mil） 量測值偏低

塑料介質損耗因數(shù)測試儀本電橋額定的工作頻率f=50Hz，在實際工作頻率偏離額定頻率時可用修正式進行修正： tg=f’·tgδ / f 式中：f 為額定工作頻率（f=50Hz） f’ 為實際工作頻率 tgδ 電橋測得損耗值 tgδ 為被測試品介質損耗角正切的實際值

液體介電常數(shù)測試儀全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。

介質損耗因數(shù)測試儀 作為 新一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前國內 高的160MHz。 全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。